二手 SEMITEST SCA 2500 #35535 待售
看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。
单击可缩放
已售出
ID: 35535
晶圆大小: 4"-8"
优质的: 1998
Real time surface charge analyzer
Test parameters: n or p type
Doping concentration Nsc 10x13 to 10x17 cm-3
Wafer size 100mm-200mm
Measurement time 60s
Graphical display in 2D or 3D of all measured parameters
Software ver. 5.45
HP Deskjet printer
Manual, standards
1998 vintage.
SEMITEST SCA 2500是为半导体和其他微电子制造应用而设计的掩模和晶圆检测设备。该系统采用高分辨率光学单元和先进的高速数字成像技术,检查光刻胶掩模和晶片的微观特征,可以影响设备的可靠性和性能。SEMITEST SCA-2500是一个自动化的机器,允许用户快速和准确地检查模式上的蒙版和电路的其他部分。它有很大的工作面积,可以覆盖300毫米²的面积,总图样高度可达200 μ m。该工具可以原型亚微米分辨率,横向分辨率为1.1 μ m,偏斜为1 μ m,吞吐量为2.5 FPS。再者,配备先进的照明控制、口罩和晶片精确精确的对准和检测,以及先进的智能检测算法。该成像资产与长工作距离和高分辨率远心光学器件集成在一起,为精确的图样检查提供一贯明亮清晰的图像。此外,该模型还与高级图像处理软件兼容,允许用户分析图像数据并查明图案形状、大小和密度方面的任何异常。此外,它还包括一个车载摄像头和强大的图像处理工具,使用户能够更有效地手动检查和比较蒙版和晶片上的图桉。SCA 2500配备了完全可调、加固的操作控制控制台,允许用户精确控制设备。此外,它的数字面板使操作员能够轻松调整关键的系统参数,如放大倍率、分辨率和准确性。再者,该单位符合SEMI S2、SEMI S7等行业标准,允许组织遵守质量控制标准。总体而言,SCA-2500专为高精度的掩模和晶片检查应用而设计,为组织提供了确保其产品达到最高质量标准的高效和可靠的方法。
还没有评论