二手 SEMV TASV-01020-VER1 #9406833 待售

SEMV TASV-01020-VER1是一种晶圆测试和计量设备。它是一个完全自动化的独立系统，由舞台、光学和软件组成，用于测量硅晶片上的各种特征，包括厚度、反射率、表面平坦度、材料和电性能。该设备提供高级成像功能,如高分辨率显微镜和SEM成像,以及许多其他创新功能和软件。TASV-01020-VER1阶段支持一系列晶圆尺寸和材料。它可以配备升降台、XY/R θ精密台，以及用于测量长宽比、平坦度和x-y位置的旋转台。可以选择物镜，可以连接各种探测器来检测来自晶圆的信号，并对其进行解释以进行分析。光学机器设计为提供高精度的成像和测量。CCD相机允许捕获静止图像和视频,从而使用户能够详细分析样本。该工具还附带了广泛的软件应用，使其更容易解释数据并提高结果的准确性。软件包含用于管理和分析示例数据的各种功能。它包括错误检测、波形分析、模式识别和统计分析。该软件还使监控晶圆资产、查看趋势和预测未来性能成为可能。SEMV TASV-01020-VER1是一种具有成本效益的晶圆测试和计量模型,可确保准确高效的数据分析。它非常适合用于研究和工业应用，允许用户快速获得各种样本量和微观结构的可靠数据。凭借其先进的功能、灵活的性能和易于使用的软件,TASV-01020-VER1是满足任何计量需求的强大选择。