二手 SENSOFAR 3D Surface profilers #293672431 待售

SENSOFAR 3D Surface profilers是一种晶圆测试和计量设备，设计用于对曲面的三维形状提供极其精确的测量。它利用先进的光学扫描技术，以高分辨率和精确度测量半导体晶片的表面地形。该系统结合了最先进的光学干涉测量仪器和专有的3D轮廓测量算法，为半导体晶圆测试和分析创造了一个高度精确可靠的工具。先进的光学扫描技术和3D轮廓测量算法使该单元能够从晶圆表面捕获高度详细、准确和精确的形状测量结果。它不仅测量晶片的表面地形，而且测量晶片表面的各种特征和轮廓。该机器能够测量各种半导体晶片，包括单晶和多晶晶片、SOI（绝缘体上的硅化物）晶片和粘合晶片。它还测量高度反射的晶片，因此能够测量表面的广泛细节。该工具还可以高速、精确地测量薄膜表面。3 D Surface Profiler可在+/-5 nm内提供极其精确的分辨率。它还以高速运行，在短短24秒内生成晶圆的3D轮廓。由于采用了先进的3D剖面图算法，资产产生的测量和结果非常可靠。该模型具有很高的灵活性和可升级性，使其能够扩展其能力以满足客户的需求。SENSOFAR 3D Surface profilers是一种功能强大且可靠的设备,可提供对半导体晶片的高度精确和详细的测量。它能够提供卓越的分辨率和速度,同时保持高可靠性和准确性。这使得它成为那些需要精确测量和分析半导体晶片的人的理想选择。