二手 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO Chips200 #9043060 待售

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO Chips200是一种晶圆测试和计量设备，提供对半导体器件和材料的关键电气、物理和光学特性的精确和实时测量。它允许分析晶圆表面数据,包括特征/应变测量、纳米尺度分析和故障分析。该系统融合了一系列独特的成像技术，包括光学偏振成像、暗场成像和电子反向散射衍射（EBSD）。这些技术允许对各种特征（如晶界、界面粗糙度和微缺陷）进行高分辨率成像和功能特定分析。该单元的暗场成像能力使得检测形态特征成为可能，如位错、晶界、双胞胎、氧化层等等。这对于故障分析特别有用,因为它允许用户观察和查找各种缺陷。同时，EBSD技术使用电子束来创建晶体取向的衍射图样。这可用于精确测量晶片的晶体结构，提供晶体取向、晶粒大小和晶体缺陷的信息。该机还配备了先进的晶圆计量能力。它可以自动测量包括CD（临界尺寸）、接触孔大小、线宽和迭加在内的三维参数。这样，SEIKO Chips200可以快速生成可用于评估设备性能的数据。该工具易于设置和使用。它带有图形用户界面（GUI），即使对于没有经验的用户也是直观的。它还具有高度自动化的操作和数据输入功能,使其非常高效和经济高效。总体而言，SII NANOTECHNOLOGY Chips200是一种功能强大且用途广泛的晶圆测试和计量资产。它为半导体器件的高精度测量和分析提供了广泛的能力。其先进的成像技术和自动化操作使其成为监控设备质量和性能的宝贵工具。