二手 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO XV-300DB #293614932 待售

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB晶圆测试和计量设备是一种功能强大的工具,旨在快速、准确地测量、分析和比较不同种类的材料。SEIKO XV-300DB采用先进的光学计量系统，结合了先进的白光干涉测量（WLI）和多重图像处理算法。该单元能够对半导体晶片、晶片基板和其他薄膜的3D光学特性进行高分辨率成像和测量。该机拥有全面的测量套件，包括光学厚度、表面粗糙度、光学晶体和介电特性等特点。它还提供了缺陷模式和故障机制的分析,以及使用3D、X-Y和X-Y-Z数据进行的详细尺寸分析。该工具为晶片测试和计量提供了广泛的功能，包括通过缺陷、迭加和SRAM分析进行岩蚀层检查以及粒子检查。SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB还支持纳米级模式测量和成像，扫描级精度为0.1纳米。XV-300DB还提供高级软件以实现快速、准确的测量、数据分析和工作流自动化。其用户友好的Easy Mode程序大大减少了学习曲线，使这一资产无论其技术经验如何，都非常适合任何用户。用户可编程的专家模式允许自定义操作设置,使用户能够根据其特定的应用程序需求定制测量值。软件还包括用于晶圆和缺陷数据管理的集成缺陷库，以及用于缺陷分析和维护的高级分析功能。SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB具有一个内置摄像头,用于对基板进行精确成像和定位,以及手动调整精确对准。该模型还具有符合人体工程学的设计，便于操作。再者，SEIKO XV-300DB兼容了许多配件，包括广域透镜、折射镜、荧光贡献等等。这些特性使SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB许多不同行业必不可少的多功能计量工具。为确保设备的每个单元都能达到最佳性能水平，XV-300DB配备了远程辅助技术，可以在线支持和升级。此外,该系统还在经过认证的SEIKO客户支持中心提供服务,提供全面的维护和维修服务。SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB晶圆测试和计量单元是任何需要对薄膜、半导体和其他材料进行准确、可靠和经济高效的测试和计量的公司的一个很好的工具。精工XV-300DB具有先进的分析功能和强大的硬件,是当今高科技应用的理想选择。