二手 SOLVISION AV-6010T #9148601 待售

SOLVISION AV-6010T是一种晶片测试和计量设备，设计用于检测和分析半导体晶片上的缺陷。该系统具有很高的精度和速度，能够检测晶圆表面上的小缺陷、晶体和粒子。此外，该单位可以测量晶圆厚度，椭圆偏振和电性能。AV-6010T具有两个扫描选项-近距离（1-500x）和超高放大倍率（500-30,000 x）。近距离扫描使用户能够观察到表面细节，而超高放大倍率扫描则是查明污染物和微小颗粒缺陷的理想选择。为保证精度，该机集成了扫描电子显微镜（SEM）、原子力显微镜（AFM）、激光多普勒测速仪（LDV）、光谱（Raman、FTIR、VIS）、单色仪等多种技术。除了缺陷检测和分析之外，SOLVISION AV-6010T还可以使用接触和非接触剖面测量晶圆厚度。测量从易碎晶体到刚性材料的各种基材，该工具精确测量从20nm到600uM。此外，该资产还支持多种测量技术，包括光谱椭圆偏振和表面电性能。该模型还与第三方软件集成，允许用户控制和传输数据。所有控制和测量都通过一个触摸界面进行管理。易于使用的界面允许在短短10分钟内完成快速设置和任务。总体而言，AV-6010T是一种全面可靠的设备，专门用于检测、测量和分析晶片缺陷。有了一系列的选项和功能，系统可以处理不同类型的应用程序的精度和速度。此外,易于使用的界面使数据传输和控制变得轻松,为用户提供了平稳的用户体验。