二手 SONOPLOT GIX Microplotter #9303841 待售

SONOPLOT GIX Microplotter是一种顶级晶圆测试和计量系统，用于测量半导体晶圆材料的电气和物理特性。该系统采用多种技术，如扫描电子显微镜（SEM）、聚焦离子束（FIB）、激光划线、红外（IR）成像、光谱和原子力显微镜（AFM）。GIX Microplotter能够拍摄晶圆材料表面的极高分辨率图像。这是通过扫描每个晶片而两个激光器同时扫描整个表面来实现的。这允许精确的细节和精度水平，这是精确测量晶圆材料的性质所必需的。此外，SONOPLOT GIX Microplotter能够测量小于10微米的区域，从而能够测量极小的特征。此外，GIX Microplotter还配备了先进的FIB功能，允许在晶圆表面上沉积和去除材料。这是晶片测试和计量中的一个重要工具，因为它允许精确控制表面特征，以便对晶片材料进行精确测试。此外，SONOPLOT GIX Microplotter能够进行铣削和接触点测试，以测量电性能。GIX Microplotter还通过软件包进行了增强,以简化测试过程。这种基于GUI的软件提供了一个很好且易于使用的界面,允许输入各种参数。然后可以将这些参数编程到机器中，机器将根据这些参数和准则获取数据。仅此功能就大大简化了晶圆测试和计量。总体而言，SONOPLOT GIX微绘图仪是一种非常先进的晶圆测试和计量系统，提供了前所未有的精度和精确度。它配备了各种各样的功能,从高分辨率映像到FIB功能,其软件驱动的GUI为用户简化了流程。使用GIX Microplotter,您可以确信自己正在准确可靠地测量晶片材料的性能。