二手 SSM 150 #9101487 待售

SSM 150是一种晶圆测试和计量设备，设计用于精确测量半导体晶圆上的复杂结构。该系统包括测试和计量的所有必要组成部分，包括：样品提升、光学显微镜、光掩模、显微镜灯、光学线性运动阶段、图像采集单元、定心装置、视频显示、三维跟踪机和倾斜调节工具。样品升降机的设计使晶圆样品直径达到150毫米，而光学显微镜则使用高分辨率透镜资产，以确保样品分析时的清晰度和精度。该光掩码用于精确分析晶圆样品的复杂区域。显微镜灯照亮样品,使图样和特征可以准确地看到.光学线性运动台将微定位平台前后移动，使样品调整到适当位置进行分析。图像采集模型捕获样本的高分辨率图像,然后将其显示在视频监视器上。定心设备有助于确保样品正确对齐并处于最佳分析位置。3 D跟踪设备记录样品在任何给定位置的方向,倾斜调整系统使用户能够在任何方向倾斜样品,从而提高图像清晰度。所有这些特征结合起来，创建了一个全面的计量工具，用于深入分析半导体晶片上发现的复杂结构。该单元能够以极高的分辨率捕获、分析和存储数百个晶圆样品的微观图像。从这些图像获得的数据可用于各种用途，从质量控制到设计优化。150机器为分析微观和宏观尺度的半导体晶片提供了准确可靠的工具。其直观的设计和多种多样的特性使SSM 150成为任何晶圆测试或计量实验室的宝贵工具。