二手 SSM / SOLID STATE MEASUREMENTS 470i #9412433 待售

SSM/SOLID STATE Measurements 470i晶圆测试和计量设备是集成电路、MEMS元件和晶圆级封装计量测试的先进工具。它结合了亚纳米分辨率的自动化光学、扫描电子显微镜（SEM）和微操作能力以及尖端模式识别和数据分析技术。通过结合这些特性，系统提供了对各种半导体材料和器件进行快速准确分析的最全面平台。SSM 470i设计有一个较大的晶片处理区域，可以容纳许多晶片位置、扫描区域和取样方向。该单元还配备了自动聚焦元件，可对其进行编程，使每个样品都能精确聚焦，从而能够分辨出0.5微米以下的特征。集成的7百万像素数码彩色相机进一步增强了机器捕获数据的能力,而自动膜对准功能有助于确保在各个方向上的精确测量。SOLID STATE MEASUMENTS 470i配备了一系列自动化的测量工具，允许精确的晶圆测量和计量操作。这些工具能够精确测量晶片的关键物理特性,包括整体特征尺寸、表面粗糙度、光学平坦度和电子束分辨率。该工具的软件还包括先进的光学数据分析算法，用于分析用于精确非接触高度测量的原始数据。对于精确的平面内元素计量，470i资产辅以一系列自动扫描探针显微镜工具。这些工具为各种2D、3D和纳米尺度测量提供精确的结果。该模型还包括先进的模式识别算法，便于对材料样本进行精确的元素分析。SSM/SOLID STATE MEASUMENTS 470i所做的高度精确的光学和SEM测量使用户能够以无与伦比的精度分析关键设备和组件的性能。通过将先进的微操作能力纳入其设计，设备还有助于提高包装和晶圆级探针的精度。综上所述，SSM 470i晶圆测试计量系统是对集成电路等半导体材料微观尺度特征进行精确快速分析的先进、全面的解决方桉。