二手 TESA Micro-Hite #9182288 待售

TESA Micro-Hite是一种先进的晶圆测试和计量设备，设计用于硅晶圆的高精度、高通量测量。它利用多轴3D级精确测量XYZ轴中的晶片。集成显微镜提供晶圆表面的放大图像，用于精确测量，而激光扫描仪头提供任何3D轮廓的快速和高精度测量。Micro-Hite系统由功能强大的TESA软件套件提供支持,能够快速、自动地捕获、分析和报告晶圆曲面。直观的用户界面和自动化的数据采集使设备能够高效运行，提高晶圆测试的准确性和吞吐量。TESA软件还可以输出一系列文件类型，包括配方、CAMP、MAP、SCAPE和CAD格式，允许与各种计量数据库和格式兼容。该机还包括一个经过校准的级，旨在以更高的精度测量晶片，使其非常适合过程开发和故障分析的严格要求。该工具的双重测量科学技术结合了接触和非接触方法，提高了准确性和可重复性。该资产用途广泛，不仅能够测量硅片，而且能够测量材料特性、纳米制造、MOEMS和光电器件测试。TESA Micro-Hite为了高精度和重复性，配备了可编程、温控级。这样可以确保在严格控制的环境中进行测量,并根据材料和应用为每个测量设置所需的温度范围和设置。除了晶圆测试和计量，Micro-Hite还可以用于工艺开发和质量验证。该模型是高度可定制的,可以根据客户的需要量身定制,提供一系列选项,包括自动成像、自动样品准备、阶段振动隔离以及额外的扫描速度。TESA Micro-Hite构建在符合人体工程学的设计之上，以方便用户，同时也融入了最新的安全标准，以及制造工艺中最高的质量标准。它小巧、坚固、易于运输,可用于经济高效的解决方桉。其耐用的构造是为了处理现代晶片加工和设置要求的严谨，使其成为晶片测试和计量的理想解决方桉。