二手 THERMA-WAVE OPTIPROBE 7341 #9123268 待售
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THERMA-WAVE Optiprobe 7341是一种先进的晶圆测试和计量设备，用于测量半导体晶圆的表面和地形以及测量薄膜材料。它是一个高度精确、无损的计量系统，提供了半导体晶片和薄膜材料的优越的3D表面表征。该单元设计用于执行广泛的测量,包括：表面粗糙度、步长、宽度、深度、轮廓和横截面曲面轮廓测量。Optiprobe 7341能够测量高长宽比以及低长宽比、扫描速度高达270 mm/秒的晶片（长视选项可高达1000 mm/秒）。THERMA-WAVE Optiprobe 7341能够生成与晶圆表面和地形有关的各种定量数据。这包括从Zernike系数到立体表示的一系列工程质量保证指标。Optiprobe 7341还能够生成高分辨率图像和各种其他输出,包括相对高度和彩色图像,用于视觉比较和集成缺陷检测。THERMA-WAVE Optiprobe 7341配备了集成软件套件，允许用户以最小的编程开发自定义计量应用程序。该软件设计为易于使用、直观且功能丰富,使用户能够快速分析数据、识别趋势并轻松生成报告。该软件还提供了功能强大的基于图像的缺陷检测功能。Optiprobe 7341是一种全自动机器,它通过向用户提供各种晶圆类型和尺寸的高精度结果来满足最苛刻的生产测试要求。它配备了光学显微镜、触摸屏控制器和自动探针工具。探测资产由Z级组成,可连续扫描样品表面。显微镜采用高分辨率数码相机来获取被扫描表面的图像。THERMA-WAVE Optiprobe 7341是大体积半导体生产理想的晶圆测试和计量模型，设计用于在广泛的加工和检验步骤中测量晶圆。其强大的软件功能使用户能够快速获得半导体晶片上的自动化3D表征结果,从而为晶片缺陷识别、故障分析和过程优化生成及时而准确的度量标准。
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