二手 THERMA-WAVE TP 300 #112387 待售
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THERMA-WAVE TP 300是一种晶圆测试和计量设备，设计用于半导体制造过程。该系统提供高精度测量,并提供准确的计量数据,可用于提高设备性能、提高产量和改进整个过程控制。该单元具有专用的全场测量机器，具有锐度和灵敏度，可以测量晶圆厚度的微小变化。它使用光学衍射光栅，这是由数百个精确设计的激光线，以获取测量。这个工具可以用来测量单个晶片的厚度，不同厚度的多个晶片，或者相同厚度的多个晶片。该资产支持广泛的精密计量工具，包括光学散射仪、光学剖面仪、扫描隧道显微镜和X射线衍射仪。它还包括一整套数据分析和质量控制功能。TP 300模型还具有高速数据采集和分析能力。通过设备的编程逻辑，它可以快速准确地捕获数据，使用户能够微调他们的过程控制，产生更高质量的产品。该系统为用户提供了生成报告的能力，其中包括有关每个晶片性能的详细信息，采用多种格式，如文本或图形报告。这样可以确保用户拥有在开发新流程和优化现有流程时做出明智决策所需的数据。该单元旨在与所有主要的过程控制软件和工具兼容，为用户在实施质量控制措施时提供最大的灵活性。它由半专业、精密的仪表提供动力，并有一台校准机，用户可以随时间推移保持测量的准确性。总体而言，THERMA-WAVE TP 300是一种多功能、高性能的计量工具，旨在满足现代半导体制造工艺的需求。凭借其先进的数据采集和分析功能,它可以快速准确地测量晶圆厚度,从而使用户能够做出明智的过程决策。
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