二手 THERMA-WAVE TP 3300 #9093527 待售

THERMA-WAVE TP 3300是一种精密晶片测试和计量设备，设计用于为半导体晶片提供准确可靠的结果。该系统采用光学技术、扫描电子显微镜（SEMs）、热成像以及多种其他先进技术的组合，实现无与伦比的精确测量。它被半导体工业用来产生一致、准确的薄膜数据，使得高质量的半导体产品得以发展。该单元从自动晶圆级对准和测试开始。对准机结合了光学显微镜、触觉感应和激光扫描，以检测和映射晶圆表面的物理特征。然后利用这些信息精确定位薄膜探头，从而实现更好的测量精度和重复性。该工具还包括各种热测试方法，如红外热成像和热成像，以表征晶圆的热特性，包括导热系数、热电阻率和热容量。此信息用于分析设备的关键参数,如工艺温度、热流和热效率。资产还包括先进的扫描电子显微镜（SEM），可以对晶圆的微观结构进行更深入的分析。通过使用高分辨率的SEM成像和分析，模型可以表征晶片的元件形状、晶粒大小和物理缺陷。此信息与热测试中的其他数据相结合,提供了设备性能的完整信息。此外，TP 3300设备还包括多种其他先进的计量技术，如近场扫描显微镜（NSM）、电容-电压（CV）计和剖面仪。这些工具可以对晶片的特性进行更全面的分析，从而能够开发高质量、可靠的半导体器件。THERMA-WAVE TP 3300系统是一个先进的晶圆测试和计量平台，为生产高质量、可靠的半导体器件提供精确、可靠、全面的数据。它结合了对准、热测试和扫描电子显微镜，使其成为任何半导体制造操作的宝贵工具。