二手 THERMA-WAVE TP 3300 #9105606 待售

THERMA-WAVE TP 3300是一种晶圆测试和计量设备，为先进半导体和MEMS器件的制造商提供快速、可靠的物理检查和产量分析。该系统利用红外热成像来表征无法通过常规光学方法揭示的物理缺陷。该单元依靠功能齐全的600 x 600像素阵列检测器提供卓越的热对比度。对于各种晶圆材料和厚度，探测器在接近最佳光谱范围内与成像光学器件同步。该设备还配备了先进的处理计算机和自动化控制软件，用于快速、可靠地测试图样晶片。TP 3300的高分辨率成像功能得到高级故障定位功能和缺陷验证的补充,以确保对每个晶片进行准确彻底的检查。设备的热成像还减少了晶圆上热点之间的热梯度,并且无需手动调整温度。此外,该单元还具有"One-Touch"功能,可轻松进行设置和晶圆分析。集成的机器还包括一个可互换的测试头设计，允许优化的过程速度和更简单的重新配置和升级。最后,该工具具有符合人体工程学的设计,易于手动覆盖手动测试选项。THERMA-WAVE TP 3300的测试能力适用于许多不同的晶圆类型和工艺环境。它与工业标准晶片材料如sili-con、GaAs、SOI晶片兼容，还具有检测蓝宝石、GaN、金属堆栈基板故障的能力。该资产还通过国际SEMI高级晶圆测试标准认证，与许多领先的计量工具兼容。总体而言，TP 3300晶圆测试和计量模型是先进半导体和MEMS器件制造商的理想解决方桉。它的自动化光学和热成像功能提供了比手动方法更快、更可靠的晶圆检查,而且直观的用户界面和测试头设计使其成为生产和研究环境的绝佳选择。