二手 THERMA-WAVE TP 400 #9047335 待售

ID: 9047335
晶圆大小: 6"-8"
优质的: 1994
System, 6" 8" capable 1994 vintage.
THERMA-WAVE TP 400晶片测试和计量设备是一种高度先进的设备,能够对晶片进行精确的测试和计量。它是专门为高级节点上晶圆性能和材料行为表征等任务而设计的。捕获的数据用于确定每个晶片工艺的成败。该系统利用专用反射计提供高分辨率成像能力。这使操作员能够捕获晶圆表面的反射率和传输图像,以便进行精确的扫描和光学分析。扫描速度是可调的,对于较大的晶片可以达到14 ips(英寸/秒)。该单元还包括先进的发光二极管图样照明功能。这使操作员能够轻松地测试非平面曲面或其他困难的目标,如小缝隙和凹陷通道。THERMA-WAVE TP400还具有高功率的光学模块机,该机经过优化,可用于测试和计量超细线宽。这适用于测试和深入分析电路几何形状,并提供非常精确的处理性能特性测量。此外,该工具还包括一个先进的半导体荧光传感器。它允许测量从纳米到微米波长范围的光强度,特别适用于微弱信号的识别和计算。TP 400晶圆测试和计量资产具有高度可靠的体系结构,提供卓越的准确性和可重复性。此外,综合环境还确保所有数据得到妥善维护和妥善存档。利用这一模型需要设备和操作员之间最小的技术数据传输。完成测试或计量程序后,系统将自动生成测试结果的综合报告。为了增强用户体验并促进测试和计量的任务,TP400包括一个图形用户界面。这对于没有经验的用户特别有用,因为它简化和简化了设备的操作。此外,它还减少了设置时间,提高了交互性和准确性。最后,THERMA-WAVE TP 400晶片测试计量机是专门为晶片处理器的精确测试和计量要求而设计的先进设备。它的众多功能使晶片能够在高级节点上进行准确的测试和计量,并确保全面报告结果。因此,它在半导体工业中是一个非常宝贵的工具,适用于一系列的计量任务。
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