二手 TOKYO SEIMITSU DIAH84 #187300 待售

TOKYO SEIMITSU DIAH84是一种高精度的自动化晶片测试和计量设备，设计用于测量和分析半导体晶片的特性。它利用光学成像和计量技术的最新技术来测量晶片的各个方面，包括图样尺寸和表面地形。该系统由光学显微镜和综合计量成像单元组成。显微镜由两个独立的光学成像和计量系统（开放闭合型）组成，串联工作以拍摄晶圆的图像。这两个系统的高数值孔径为0.85,高放大倍数可达200倍,实现了极高的精度测量。集成的计量和成像机配备了一个旋转级，提供快速和方便地访问晶圆的所有表面。旋转台定位精度高，转速高。此外，DIAH84还拥有内置激光干涉仪，能够精确、高精度地测量光学特性，如厚度、表面粗糙度和形状。使用此工具,用户可以轻松地测量晶圆表面上微小而复杂的图样的轮廓。激光干涉仪还保证了未来测量的高重复性。此外,该资产还具有高速图像处理模块,使用户能够快速获得准确和高分辨率的测量结果。利用其易于使用的图形用户界面，可以在没有任何计量学的先验知识的情况下操作模型。TOKYO SEIMITSU DIAH84是晶圆测试和计量的强大且高度精确的工具，适合各种研究和工业应用，如过程控制和故障排除。该设备具有光纤可访问性，易于移动，可用于各种制造和实验室环境。它是需要高度精确晶圆测试能力的工业用户的理想工具。