二手 TOKYO SEIMITSU YR-60 #9156520 待售

TOKYO SEIMITSU YR-60晶圆测试和计量设备是测量半导体芯片微观结构的有力工具。该系统利用先进的图像捕捉技术，呈现出晶圆内部结构的精确画面。它是一个高效的单元，能够快速反馈制造的半导体芯片的质量。这使制造商能够快速确定其产品是否符合所需的规格,并确保其产品符合有效使用所需的质量标准。这台机器的核心是收集晶圆结构数据的传感器。它采用了多种数据捕获方法,包括红外光、紫外线和可见光,以确保捕获准确的图像。这些传感器和图像捕获技术还能够检测晶圆的电性能，如瞬态电流、电荷和电容。YR-60还设有一个控制单元，用于处理传感器收集的数据。此控制单元能够进行广泛的测量,例如几何尺寸、粗糙度和其他物理属性。此外，控制单元能够执行过程控制功能，如补偿温度漂移或其他可能影响测量的环境因素。TOKYO SEIMITSU YR-60还配备了一整套软件工具，帮助操作员分析该工具收集的数据。软件工具包括各种图表和图形功能,以及计算缺陷大小、缺陷类型和过程产量等数据的适用性。YR-60是准确测量半导体芯片微观结构的有效方法。它是一个可靠的工具，可以为制造商提供快速的结果，并确保他们的产品符合要求的质量标准。该资产是任何半导体生产设施必不可少的设备。