二手 TOKYO SEIMITSU YR-60 #9258195 待售

TOKYO SEIMITSU YR-60是一种高度先进的晶圆测试和计量设备，设计用于检查半导体晶圆的性能。利用基于视觉的技术，YR-60可以精确检查整个晶片表面，包括不规则形状或弯曲晶片。该系统包括一个用于高精度晶圆厚度测量的自动X射线装置，以及一个具有3D检测能力的微观测量站。此外，高分辨率成像是由一台先进的摄像机提供的，具有宽广的显微镜范围和控制传感器。先进的相机工具可以方便地对准，提供卓越的能见度，以确保精确的测量。TOKYO SEIMITSU YR-60设计用于处理直径达300 mm的晶片。可以在同一晶片上执行多个性能,并且每个性能存储在数据库中以供将来参考。此功能无需对每个晶片进行物理测量和比较。除了测量厚度外,YR-60还可以检查晶片的形状、尺寸、平坦度和几何形状。资产采用表面粗糙度测量来确保晶圆表面具有均匀的纹理。TOKYO SEIMITSU YR-60还提供了广泛的应变测量,包括曲率、粘结强度、应力和热刚度。来自YR-60的数据由几个高级软件解决方桉进行分析，包括SEIMITSU的SEMITOOL Test Suite，它自动检测并呈现图像、表面特性和整体晶圆状况报告。SEMITOOL Data Analyzer也被用来分析晶圆性能的特性，允许可靠的数据比较和无偏见的数据分析。TOKYO SEIMITSU YR-60是晶圆测试和计量的高度通用和精密的模型。其先进的相机技术、测量精度以及自动化的测量和分析能力使其成为各种复杂程度的半导体生产的理想选择。