二手 VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK 8 #293754273 待售
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ID: 293754273
Profilometer
(2) Chambers
Roughness
Vertical resolution: 6.55 µm
3D Topography measurement
Stress and defects samples: 200 mm
Step height repeatability: 7.5 A Step
Sigma maximum sample thickness: 25.4 mm
No PC.
VEECO、SLOAN和BRUKER是以材料分析和计量领域的先进技术解决方桉而闻名的公司。VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 8是一种精密的晶片测试和计量设备,结合了这三个行业领导者的专业知识和技术,为测量半导体晶片和其他薄膜材料的表面轮廓提供了全面准确的解决方桉。VEECO DEKTAK 8系统的关键部件之一是其专有的手写笔剖面仪技术,它以亚纳米分辨率提供对表面粗糙度、步高和薄膜厚度的高度精确的测量。先进的手写笔剖面仪由一个尖锐的菱形尖头手写笔组成,它扫描样品表面,甚至检测到高度和地形的最小变化。SLOAN DEKTAK 8单元配备了多种测量模式和分析能力,以适应广泛的样本类型和测量要求。这种多功能性允许用户以高精度和重复性执行各种计量任务,如步高测量、薄膜厚度分析、表面粗糙度表征和线宽剖析。除了先进的测量功能外,DEKTAK 8机器还具有用户友好的界面和直观的软件,可简化测量和分析过程。该软件允许用户定制测量参数、数据分析设置和报告格式,方便生成准确详细的计量报告,用于研究、开发和质量控制目的。BRUKER DEKTAK 8工具还提供了先进的自动化功能,如电动舞台控制、多个样品定位选项和批量测量能力,从而提高了高通量测试环境中的生产率和效率。这些自动化功能使用户能够在一次运行中对多个样本执行快速而准确的测量,从而缩短测量时间并提高吞吐量。VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 8资产的另一个显着特点是它与广泛的晶圆尺寸和材料兼容,包括硅、III-V化合物、蓝宝石、玻璃和聚合物。这种多功能性使得该模型适用于半导体制造、材料研究、薄膜沉积等精密表面剖面和计量必不可少的行业的多种应用。总体而言,VEECO DEKTAK 8晶圆测试和计量设备代表了精确可靠的表面测量和分析的尖端解决方桉。其先进的技术、用户友好的界面、自动化能力以及与各种样品类型的兼容性,使其成为半导体和材料科学行业研发、质量控制和工艺优化的宝贵工具。
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