二手 VEECO / SLOAN DEKTAK 3030 #293590373 待售

VEECO/SLOAN DEKTAK 3030是一种功能强大且可靠的晶圆测试和计量设备,旨在对各种基材的轮廓和厚度进行完整而精确的测量。具体来说，该系统是为精密金属和半导体应用而设计的，能够精确测量非常薄的金属薄膜，如用于MEMS应用的薄膜。VEECO DEKTAK 3030采用独特的扫描探针显微镜（SPM）技术,能够以纳米分辨率进行环境扫描测量。该单元能够测量非常广泛的线性和2D尺寸。测量精度保持在大面积上，SLOAN DEKTAK 3030能够在整个试样表面保持一定水平的稳定性。硬件和软件系统坚固可靠，能够在所有样本上保持一致的可重复结果。DEKTAK 3030的其他标准特性包括大型直驱样本级、高精度探头、自动对焦机、先进的电机定位工具以及全面的数据采集和分析套件。大型采样台能够快速、准确地导航样品表面，即使在整个复杂曲线中也能保持一致的可重复性。高精度探针测量具有很高的精度，可以测量从大型特征到纳米尺度特征的一切。同时，自动对焦资产能够跟踪表面地形，以保持精度，即使标本表面变化。先进的电机定位模型还能够快速、准确地重新定位设备和样品。最后,综合分析套件对记录的测量结果进行了全面分析。总体而言，VEECO/SLOAN DEKTAK 3030对于需要对金属或半导体基板进行精确测量的应用来说是一个极好的选择。该系统的高级硬件和软件套件允许精确测量非常薄的薄膜和纳米级特性。同时，大型直驱采样台、坚固的电机定位单元、自动对焦机保证了快速、无麻烦的测量。整个工具使VEECO DEKTAK 3030成为要求苛刻的晶圆测试和计量应用的理想选择。