二手 VEECO / SLOAN DEKTAK 3ST #293817112 待售

ID: 293817112
优质的: 1992
Surface profiler Z resolution: 10 nm X/Y resolution: 0.2 µm Application: step height measurement (~2 µm deep, <8 µm wide) Tip angle: 60° 1992 vintage.
VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST是一种先进的晶圆测试和计量设备,利用最新的先进光学成像技术来测量和分析半导体晶圆和其他微观结构。VEECO DEKTAK 3ST提供了一个模块化平台,允许用户根据自己的需求和应用定制系统。SLOAN DEKTAK 3 ST利用高精度光学和触觉探测技术以及原位元材料成像能力相结合,产生详细的晶圆测试结果。高精度光学探测技术测量细胞、分析物和斑点的三维(3D)形状。光学探针的精细控制使使用者可以精确地测量甚至最微小的图桉和细节。这使得能够对每个半导体晶圆或微观结构上的多个结构进行快速、高度精确和可重现的测量。光学探头的精细控制也不需要手动的轮廓校正或修改。VEECO DEKTAK 3 ST采用x/y/z扫描技术,能够扫描各种基板,如蓝宝石基板、金属和聚合物,分辨率和准确性都很高。SLOAN DEKTAK 3ST还提供测量半导体晶片电阻率的能力。这与原位元材料成像能力相结合,为用户提供了半导体晶片和其他微观结构的完整表征和生产分析。VEECO/SLOAN DEKTAK 3 ST是一个用户友好的单元,具有图形化的用户界面,允许用户为其特定的应用程序轻松配置机器。用户友好界面允许同时分析多个晶片,也可用于测量测试特征和检查生产过程中的不规则性。总体而言,DEKTAK 3ST是一种先进的晶圆测试和计量工具,使用户能够快速准确地分析各种半导体晶圆和微结构。DEKTAK 3 ST结合了高精度光学探测、原位元材料成像和x/y/z扫描功能,为用户提供了通用的表征和生产分析功能。用户友好的图形用户界面允许轻松配置和操作,使VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST任何半导体或微结构应用的宝贵补充。
还没有评论