二手 VEECO / SLOAN DEKTAK 3ST #9070971 待售

VEECO/SLOAN DEKTAK 3ST晶片测试和计量设备是一种用于测量和分析晶片级半导体元件和结构的高度精确和可靠的系统。该单元设计用于精确和可重复性至关重要的研发或生产环境。它非常适合测量各种晶片材料上的单晶圆测量值，包括硅、砷化氙等。VEECO DEKTAK 3ST结合了接触剖面仪和非接触表面粗糙度测量。这包括使用机械手写笔探针来确定表面地形和计算台阶高度。它还使用光学非接触式激光位移传感器来测量表面轮廓、介质粗糙度和其他参数。该机精度高,可测量高达100 nm的垂直分辨率。该工具提供了广泛的晶圆测试功能,包括自动取样、非接触面分析、触控笔扫描以及高级数据收集和分析工具。它包括一个基于软件的界面，用于自动化过程控制和剖面图报告。SLOAN DEKTAK 3 ST可以用于1D或2D扫描，以及时间平均平滑和高级统计分析。SLOAN DEKTAK 3ST具有先进的功能，包括能够处理更大的晶圆，使用多个探测器和传感器以获得更大的灵活性，以及能够执行3D测量。它还具有用于快速扫描和分析整个晶圆表面的内置特征。它与各种各样的自动化晶圆处理系统兼容，可以在手动或自动化环境中使用。VEECO DEKTAK 3 ST包含了最先进的安全功能，例如用于用户保护的封闭式护罩、用于不同应用的可互换探针、防尘盖盖以及易于维护和校准的功能。该资产可靠可靠,可实现一致、可重复的结果。它是计量应用的热门选择，包括故障分析、模型表征、汽车测试、设计验证、薄膜表征和晶圆级质量保证。总体而言，VEECO/SLOAN DEKTAK 3 ST是一种先进的、高度可靠的晶圆测试和计量设备，能够在各种应用中提供晶圆尺度半导体元件的精确测量。它能够处理大晶片，提供多个探针和传感器，执行1D和2D扫描和分析，并对整个晶片表面进行快速扫描和分析，使其成为研发、生产和计量应用的理想选择。