二手 VEECO / SLOAN DEKTAK II #68582 待售

VEECO/SLOAN DEKTAK II是一种晶圆测试和计量设备，用于测量现代半导体器件如纳米级FET（场效应晶体管）上的临界表面特征。该系统采用先进的原子力显微镜（AFM），实现了具有纳米分辨率的晶圆的精确、详细的三维映射。这有助于在几个晶圆直径步骤中构建和测试半导体器件,从而提供高精度、详细和可重复的优越表面映射结果。VEECO DEKTAK II单元也非常适合更传统的计量技术，如手写笔和光学轮廓测量以及高级选项，如表面粗糙度、亚表面结构等。这台机器的高级AFM能够实现3D成像和研究,再加上获得专利的"flex-drive"选项,使该工具具有极强的适应性。可以方便地配置和优化资产,以进行各种地形和表面结构测量,包括有有限数据集或新晶圆类型的测量。该模型还提供了最高级别的自动化操作之一，通过允许用户仅根据设备收集的数据做出数据收集决策，大大减少了人工决策。这样可以最大程度地减少人为错误,缩短测试周期,并减少晶圆测试期间花费的时间和金钱。此外,该系统功能强大,可以处理直径从1英寸到8英寸的多个晶圆大小,并包括一个数据采集套件,其中包含多图像采集以及统计计量等功能。总体而言,SLOAN DEKTAK II是一个可靠可靠的晶圆测试和计量单元,旨在满足所有对精度、分辨率和速度的期望。这台机器具有广泛的自动化功能、与各种晶圆尺寸的兼容性以及通过其AFM和其他高级功能提供的灵活性,适合许多不同的测试应用。由于结合了先进的AFM和光学技术，DEKTAK II是任何半导体制造商都可以信赖的功能和成本效益很高的工具，以便获得准确可靠的结果。