二手 VEECO / SLOAN DEKTAK V-200 Si #147177 待售

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ID: 147177
Surface scanner profilometer De-installed and crated.
VEECO/SLOAN DEKTAK V-200 Si是一种高性能晶圆测试和计量设备,可提供无与伦比的精度和可重复性,用于测量硅和复合半导体基板的厚度和轮廓。该V-200设计为在自动化串联模式和手动平台模式下运行,能够快速测量过程和描述晶片的特性。该V-200具有先进的光学检测子系统和高光学精度的三轴扫描仪,以确保精确的运动和轮廓测量。高达7.62mm (300密尔)的垂直扫描范围和15.25mm (600密尔)的水平扫描范围为大型基板提供了充足的测量面积。该V-200不仅具有精确的扫描功能,而且还为流程开发、生产和研究应用提供各种数据收集、分析和报告功能。该软件允许测试和计量过程的完全自动化,以及手动控制,具有用于遍历台阶高度、凹坑和峰值的自动化例程。该V-200提供了许多操作员友好的功能,以确保准确性和可重复性。它有一个光学板,它提供精确的尺寸参考样品水平,以消除对准问题。该系统还具有一个LED分析单元,可在整个测量范围内提供均匀的照明和精确的测量。此外,在串联模式下,通过使用获得专利的"自动对齐焦点"过程实现精确对齐和可重复性,该过程包括粗细调整功能。V-200还配备了透镜照明机,可产生均匀的照明,消除与光学和透镜质量有关的操作员问题。该工具还允许使用各种光学透镜和技巧来提高生产率。该V-200建立在经过现场验证的平台上,在整个制造过程中进行质量检查,以确保长期耐用性和可靠性。资产由训练有素的工程师和技术人员组成的团队提供支持,并根据需要提供日常维护和支持。该V-200是一个通用的、高性能的晶片测试和计量模型,能够快速测量和深入表征晶片。凭借先进的光学、先进的运动和轮廓扫描、直观的用户界面和自动化功能,V-200可快速、轻松地提供准确、可重复的结果。
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