二手 VEECO / SLOAN DEKTAK V-200 Si #9105704 待售

VEECO/SLOAN DEKTAK V-200 Si是一种先进的、具有成本效益的晶圆测试和计量设备,专门为适应各种晶圆尺寸而设计。它提供高分辨率、双轴轮廓计量以及自动电子获取晶圆数据。V-200 Si采用象限光电二极管技术（QPD）进行聚焦控制,优化晶片边缘检测。该单元还具有基于反馈的分级控制（FFB）机,它为薄膜计量提供了最佳温度梯度。通过自动校准焦点参数,V-200 Si保证了数据的重复精度和精度.V-200 Si配备了Optic Table Wafer Scanner，可以以25 kHz的数据速率同时测量多个晶片，同时还提供高分辨率的视频检测模式。该扫描仪利用振动隔离表，通过最小化漂移效应和环境噪声来提高数据可重复性。该扫描仪还采用了运动学索引工具，利用单级精确调整不同大小晶片之间的测量参数。V-200 Si还包括高级软件包,这些软件包允许轻松定制数据获取以符合客户规格。此软件可以自动计算表面地形,以及检测和量化诸如缺陷、台阶、凹槽和连接等特征。这些软件包还提供统计分析、趋势绘图和定制报告。V-200 Si使得一次测量多个晶片比以往任何时候都容易。这种最先进的资产为客户提供了无与伦比的数据更新精度,以及高分辨率图像和精确的计量结果。通过使用VEECO V200-SI,客户可以放心,他们的测试和计量应用程序正在得到最精确的处理。