二手 VEECO V200-Si #9235749 待售
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已售出
ID: 9235749
Surface profiler
N2 and CDA: Standard quick connects 7 mm tube
Exhaust: General exhaust, 125 mm
Communication:
Standard printer port
Standard monitor port
Operating system: Windows 98 Second edition
Processor: Pentium (r), 32.0 MB RAM
Vertical range: Up to 262 µm
Vertical resolution (At various ranges): 1Å/65K Å, 10 Å/655K Å, 40 Å/2620K Å
Scan length: 50 µm to 200 mm
Scan speed ranges: 3 to 218 Seconds
Stage leveling: Automatic & power leveling
Stylus: Diamond, 5 µm radius
Stylus tracking force: Programmable, <1-30 mg
Max sample thickness: 45 mm
Sample stage diameter, 8"
Sample stage translation:
X Axis: 200 mm
Y Axis: 200 mm
Sample stage rotation: Θ 360°
Magnification: 60x to 420x
Standard power: 240 V, 10 A.
VEECO V200-Si晶片测试和计量设备是一种紧凑、经济高效的解决方桉,用于测量半导体晶片在生产过程中的关键性能参数。它使用软件控制的光学器件来测量晶圆表面的地形、厚度和均匀性。该系统还提供了一系列分析功能，以确保晶片符合所需的规格。VEECO V 200SI具有非常精确的扫描和测量单元,用户可以快速轻松地分析晶圆的特性。该机提供0.3微米的分辨率和高达26mm x 26mm的测量范围。显微镜具有高达1000倍的光学变焦和大视野，允许更大的视野，同时保持单个设备特征的细节完整。VEECO工具利用了多种软件控制的计量方法，包括接触扫描、非接触扫描和光谱方法。这些技术使用户能够测量特征的高度并生成数据点以供查看。该软件还提供了一系列数据分析解决方桉，从地形数据的自动数字化到表面粗糙度评估。V200 SI还包括用户友好、直观的图形界面和高级计算资源,使用户能够快速轻松地分析数据并创建全面的工程报告。此外,用户还可以实时监视、分析和优化晶片性能,帮助他们确保整个生产过程中的质量一致。总体而言,DEKTAK V-200 SI晶圆测试和计量资产为自动晶圆测试和计量提供了一个非常复杂、方便的解决方桉。其精确的测量和分析能力，加上直观的图形用户界面，使其成为高精度晶圆检测操作的理想选择。此外,VEECO售后技术支持和培训计划确保用户能够充分利用他们的模型,并在生产过程中达到最高的准确性和吞吐量。
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