二手 VEECO V200-Si #9235992 待售

VEECO/DEKTAK V200-Si是一种精密晶圆测试和计量设备，设计用于测量半导体芯片层的厚度、平坦度和其他微观结构特征。该系统利用先进的光学传感技术来测量和分析晶片的表面地形，使其成为半导体工业研究和生产的理想工具。VEECO V 200 SI的光学传感技术利用了两种类型的扫描仪：超小型扫描镜和低调扫描镜。超紧凑的扫描镜设计用于精确捕捉高粗糙度部位的地形，而低轮廓扫描镜则为低粗糙度部位提供更高精度的测量。来自扫描的数据用于创建晶圆表面的3D地形图，可用于分析表面特征，如晶粒尺寸、晶体结构和其他微观结构缺陷。DEKTAK V200 SI单元还包括自动化数据处理和分析软件。该软件允许用户创建用于测量晶圆内特定微结构特征的自定义测量。该软件还使整个计量过程自动化，使用户更容易、更高效。此外,DEKTAK V-200 SI使用通用语言接口进行编程,以确保数据易于理解并应用于其他系统。DEKTAK V200-Si还配有多种配件，可提高测量精度。这些附件包括可变大小的扫描仪、温度稳定级和光缆。可变尺寸扫描仪可以调整以测量不同尺寸的晶片，而温度稳定级可确保在温暖和寒冷的环境中的准确读数。光缆允许在晶圆和工作站之间高速传输数据。DEKTAK V 200SI是一种先进的晶圆测试和计量机器，设计用于半导体层的精确测量和分析。其高精度的光学扫描技术和自动化的数据处理和分析软件使其成为测量和分析晶圆内微观结构特征的理想工具。此外，它的附件使工具能够处理各种各样的晶圆尺寸和温度。VEECO/DEKTAK V-200 SI是半导体工业研究和生产的强大而可靠的工具。