二手 VIEW ENGINEERING / GENERAL SCANNING 1220 #9182605 待售

VIEW ENGINEERING/GENERAL SCANNING 1220是为工程和生产应用而设计的晶圆测试和计量设备。该系统提供了非常准确的结果,使工程师和过程工程师能够快速评估产品质量并排除晶圆处理问题。VIEW ENGINEERING 1220集成了专有的数字成像扫描仪和光学硬件，以自动识别和测量晶圆性能特征。利用自动图像分析程序对晶片结构中的缺陷进行定位，提供了非常准确的结果。GENERAL SCANNING 1220还提供了工艺参数的数据输入，可用于检测工艺参数与晶圆测量之间的相关性。1220的设计目的是在各种晶圆化学和尺寸上提供高通量、高精度的计量。该单元能够以较高的扫描速度捕获和测量晶片芯片，以评估高达6.00 mm的整个晶片厚度。它还可以提供对单晶硅晶片样品的全面计量，使用光学显微镜在长达20毫米的面积范围内多次测量样品。机器的多功能测量功能还包括自动倾斜测量、集成聚焦和快速成像。此外,VIEW ENGINEERING/GENERAL SCANNING 1220还具有多种功能,可简化使用并提高准确性。工具的用户界面分为不同的模块,每个模块专门用于特定任务。这通过以清晰直观的格式向用户展示集成和分析选项来简化工作流程。此外,高灵敏度光学资产提高了测量精度,而自动XY扫描可确保每个样品的可靠结果。VIEW ENGINEERING 1220是一种功能强大的晶圆测试和计量模型,旨在使用户能够快速准确地评估其晶圆的质量。该设备具有先进的光学扫描和分析功能，能够准确评估多种不同类型的晶片，确保晶片的生产和产品质量。