二手 VIEW ENGINEERING / GENERAL SCANNING View Bazic 8 #9105953 待售

VIEW ENGINEERING/GENERAL SCANNING VIEW Bazic 8是一种晶圆测试和计量设备，设计用于半导体制造的工业用途。它是晶圆参数精确测量的理想选择，对各种试样进行了综合分析。该系统配备了高放大倍率光学图像分析仪（OIA）。这样就可以对测试晶片进行高对比度成像，并准确测量其复杂的物理结构和特性。VIEW ENGINEERING View Bazic 8由三个主要组件组成：操作员控制台、主主机单元和OIA。运算符控制台允许输入不同的测量参数和设置以及控制整个设备。它还提供了一个全面的图形用户界面（GUI），方便快捷的数据解释。Main Mainframe Unit通过集成相机传感器、处理器和内存为机器提供计算能力。此单元能够存储和处理各种数据格式,并允许对图像进行校准以进行精确测量。内审办采用了多种功能，以确保准确测量。它包括具有4倍、10倍和20倍放大倍率的镜头、垂直CCD相机、高端图像处理板和专有光源工具。透镜提供了测试晶片的清晰视图，并保证了到纳米尺度的出色图像分辨率。此外，CCD相机和图像处理板使OIA能够捕捉测试晶片的精确图像，并以高精度测量其参数。专有光源测量入射光的强度和方向，以研究测试样品的光学性质。GENERAL SCANNING VIEW Bazic 8是一种功能强大且高度精确的晶圆测试和计量资产，用于半导体制造。它能够捕获晶片的高分辨率图像并精确测量其参数。内审办凭借出色的图像分辨率和对入射光的精确感测，确保了准确的分析和数据解释。Operators Console为模型的所有功能提供了全面的GUI,从而保证了数据的轻松控制。因此View Bazic 8是工业半导体制造的理想解决方桉。