二手 WENTWORTH 0-021-0200 #293634266 待售

WENTWORTH 0-021-0200是一种晶圆测试和计量设备，设计用于硅和复合半导体器件以及MEMS的半导体器件和晶圆级表征。这种先进的计量系统能够进行各种类型的精确和精确的测试和测量。0-021-0200由多级、多轴采样级和高分辨率迭加测量单元组成，精确测量多个器件参数，如介电常数、栅极电容、栅极至漏极电容等参数性能。该机包括一套全面的测量工具，包括CCD显微镜、数字成像软件、热控环境室以及精确的样本跟踪和分析软件。WENTWORTH 0-021-0200提供了对各种先进半导体器件结构的精确测试,包括finFET、FD-MOSFET、III-V和Micro Electro Mechanical Systems （MEMS）体系结构。该工具配备了多达32个对准级、9轴运动控制、高精度级和具有高力分辨率的负载单元、快速样品安装选项以及用于各种测试任务的各种光学计量附件。0-021-0200采用高精度、高速扫描干涉技术与光学图像处理相结合，允许进行亚纳米分辨率测量。该资产提供0.3至50.2微米范围内的可重复测量和动态范围，验证晶圆级设备的设计和构造。WENTWORTH 0-021-0200设计用于在从研究和工程到生产计量的各种环境中进行快速、准确的测试。该模型提供了广泛的高级错误检测,包括集成的数据记录和分析软件,以及自动化的测试调度和报告生成。0-021-0200提供了一整套测试能力，使工程师、研究人员和生产人员能够快速验证半导体和基于MEMS的器件的结构完整性和热行为。这种先进的晶圆测试和计量设备能够超过当今新兴晶圆级结构的准确性和精确度要求,在各种IC材料和设备中提供可靠和可重复的特性。