二手 WIS INC PDS 1020-G2 #9258990 待售

WIS INC PDS 1020-G2晶片测试和计量设备是一种精密分析工具,设计用于集成电路（IC）和复合半导体晶片的半自动检查和分类。该系统能够同时进行接触电阻和光学显微镜（OM）测试，使其成为设备和功率性能分析的理想解决方桉。PDS 1020-G2包括一台装有自动光源的玻璃管光学显微镜、电动级、高分辨率数字成像单元和一台硬件可选的集成视觉机。数字成像工具利用一万像素CCD图像传感器，以最大500倍的放大倍数捕获晶圆表面的数字图像。集成视觉资产包括先进的图像处理算法，以准确检测缺陷，并对捕获的图像进行测量。该模型还具有精密超声波探测站和高精度运动控制设备，可以对试样点进行综合电阻测量。超声波探测站能够获得高达10GHz的电阻，而运动控制系统则能在测量点之间快速移动探测点，以实现精确的电阻映射。还包括一个样品支架平台，以便在测试期间将晶片牢固地固定到位。除了物理测试外,WIS INC PDS 1020-G2还包括用于数据管理和数据演示的板载软件。此单元支持2D和3D绘图,以全面概述晶圆的性能,并提供一项功能,使用户能够比较多个设置并判断最佳测试配置。此外，还包括复杂的分析后实用程序，以便更准确地解密测试结果。PDS 1020-G2是一种紧凑、易于使用的晶圆测试和计量机器，适用于各种半导体应用，从IC开发到工艺质量优化。它易于操作、精度高、软件功能全面,是设备和电源性能分析的理想解决方桉。