二手 WYKO / VEECO NT 3300 #9394879 待售

ID: 9394879
Optical profiler.
WYKO/VEECO NT 3300是一种晶圆测试和计量设备,设计用于高精度和重复性。它能够以高精度和重复性测试高达4英寸的晶圆样品。WYKO NT 3300高精度,可以测量厚度和面积到纳米。它配备了一个创新的光学成像系统,能够以高精度测量半导体晶片上的微小表面特征。VEECO NT 3300由一个高功率显微镜单元提供动力,该单元可以以高达200纳米的分辨率提供晶圆表面的3D视图。这允许对单个晶体管、焊盘和触点进行精确的测试。显微镜还可用于小面积的地形测量和研究大面积晶片的表面。NT 3300具有广泛的晶圆计量能力。这包括自动薄膜厚度测量、表面和边缘粗糙度测量,以及分析半导体材料的光学特性。也可用于缺陷检测,如边缘断裂、针孔缺陷、分层等。WYKO/VEECO NT 3300的用户界面具有高度直观和用户友好的特点。它支持多种语言,用户可以在触摸屏显示屏上输入测量所需的参数。用户还可以访问软件的高级图形用户界面,这使得从晶圆收集的数据的可视化变得容易。WYKO NT 3300包括一台经Underwriters Laboratories (UL)认证的安全机器。它有一个特别设计的液晶显示器(LCD)工具,以确保晶片不接触任何危险材料。单独的控制PC有助于确保晶片安全加载和卸载。VEECO NT 3300是一种高度通用的资产,可用于测试范围广泛的半导体材料,包括硅、氮化​​氙和氧化锌锡。该模型还与各种设备兼容,从计量实验室到生产线。NT 3300还配备了先进的热管理设备,确保晶片保持在理想温度范围内进行精确测试。这使得该系统非常适合于高温高压半导体的测试。总体而言,WYKO/VEECO NT 3300是一个创新和可靠的晶圆测试和计量单元,旨在提供具有可重复性的精确测量。其广泛的计量能力和直观的用户界面使得它成为晶圆测试的绝佳选择。
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