二手 WYKO / VEECO NT 8000 #183083 待售
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ID: 183083
Optical profiler
Win XP-Pro sp3
100um/sec
Scan speeds, 8mm scan height
Scan speed 1x,3x,11x,20x
Three modes scan speed vsi, psi, evsi (enhance vsi)
200mm (8") scan stage computer control with encoders
Motorize 4 position turret with auto detect
Full automation with internal reference signal (laser guide)
Enable self calibrating accuracy over the entire scan range
Integrated air table
Objectives:
5.0x fov 2.47x1.88 with .55x; 50.0x fov 0.25x0.19 with .55x
5.0x fov 1.24x0.94 with 1.0x; 50.0x fov 0.12x0.09 with 1.0x
Including 10x lens
Light source using fiber to eliminate thermal interference
High speed auto focus, tip/tilt stitching optional (included)
2005-2006 vintage.
WYKO/VEECO NT 8000是一种高性能的计量和晶圆测试设备，旨在为半导体制造过程提供更高的精度和可重复性。该系统由四个组件组成：定制的光学表面剖面仪（OSP）、基于光学的非接触式3 D表面剖面仪（NCSP）、测量控制器以及用于分析和报告生成的软件套件。OSP利用低相干光源从表面扫描测量中获得可靠的结果,而NCSP使用温度控制的光学单元来测量3 D表面轮廓。两者都使用高压、高真空室进行样品冷却，并使用真空室进行晶片加载。测量控制器的设计是为了整合OSP和NCSP系统的结果，提供对测量过程的自动化控制，并提供高精度性能。它还提供了一个直观的用户界面，使用户能够轻松配置他们的计量和测试要求。WYKO NT 8000软件套件包括数据采集过程和分析工具,用户可以快速分析和显示数据。该套件包括数据减少和纠错算法等高级功能，允许用户更准确地确定测量结果。此外,软件套件还提供自动化的报告生成和存储功能,允许用户快速查看、报告和处理性能结果。总体而言，VEECO NT8000计量和晶圆测试机是寻求提高性能和精度的半导体制造商和研究人员的理想选择。VEECO NT 8000将光学表面剖面仪和非接触式3 D表面成像与一套功能强大且易于使用的软件工具结合起来,使用户能够轻松监控、分析和优化其过程,以实现最高的效率和性能。
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