二手 ADE / KLA / TENCOR NanoMapper #293706156 待售

ADE/KLA/TENCOR NanoMapper是用于纳米尺度分析的下一代X射线检测和计量设备。该系统能够根据样品类型和用途提供分辨率不同的高分辨率图像。它还配备了高级算法来分析生成的图像，以便进行精确的测量和特征检测。ADE NanoMapper由几个支持X射线成像和分析的组件组成：X射线源、探测器和将X射线引导到样品上的光束线单元。X射线源发射能量范围广泛的X射线，可以调整以获取分辨率更高的图像或捕获对比度更高的图像。借助KLA NanoMapper机，用户可以调整X射线光束的能量和波长，以捕捉分辨率高达1nm的图像。结合探测器，它使NanoMapper能够捕获纳米颗粒和纳米结构等微小特征。光束线工具允许用户控制X射线束相对于样品的角度，进一步提高图像的分辨率。可以从不同角度捕获图像以启用3D分析。为了进一步帮助分析,TENCOR NanoMapper安装了一套专有软件来分析生成的图像。使用此软件,用户可以测量设计中的关键特征并分析样本的结构完整性。利用ADE/KLA/TENCOR NanoMapper，可以快速准确地捕捉图像；提供可重复和高度可变的图像处理功能,以满足检查和计量需求。由于其精确的成像能力，可用于半导体、制药、汽车等广泛行业，使其成为纳米规模研究的宝贵工具。