二手 ADE / KLA / TENCOR NanoMapper #9081438 待售

ADE/KLA/TENCOR NanoMapper是一种为纳米材料表征应用而设计的X射线设备。该系统由一个X射线源、一个单轴X射线反射仪和一个用于样品定位的级组成。X射线源提供了一系列小角度X射线散射（SAXS）和透射X射线衍射（TXRD）信号，可用于精确测量纳米材料的相位、形态和微晶度，从几百纳米到单个纳米的大小。反射计利用半单色X射线光束测量0.5到17度之间的散射角度，使其能够获取纳米结构特征的高分辨率数据。ADE NanoMapper单元具有封闭的X射线源,允许在受控环境中进行测量。这避免了噪声源或振动，也有助于确保附近人员的辐射水平保持安全。机器也是高度自动化的，有一个机器人定位工具的样品放置。这样可以进行高度可重复的测量,从而可以随时间和样品之间进行有意义的比较。KLA NanoMapper资产产生的高分辨率图像可以很容易地进行后处理和分析。它还能够产生多维数据集如SAXS图像、透射X射线衍射（TXRD）数据、3D重建和高分辨率显微照片。这些数据可以用来测量纳米材料的尺寸和形状；检测缺陷和杂质；分析应变场；确定扩散系数；跟踪纳米材料的形态和结晶特性随时间的变化。该模型是为满足最严格的工业标准而构建的,配置为以最小的维护和停机时间运行。模块化设计还允许在出现新的应用程序或技术时快速且经济高效地添加升级。自动控制和严格的公差确保了每个实验的可靠和可重复的结果，为科学家和材料工程师提供了有意义的反馈。TENCOR NanoMapper是材料表征的宝贵工具，提供了丰富的纳米材料信息。