二手 ADE / KLA / TENCOR NanoMapper #9235752 待售

ADE/KLA/TENCOR NanoMapper是一款功能强大的X射线设备，能够成像纳米级的样品。该系统采用最先进的扫描技术，产生分辨率高达1纳米的高分辨率图像。ADE NanoMapper提供对样品表面形态和组成的全面分析。KLA NanoMapper的先天集成探测器能够在5-50 keV的广泛X射线能量范围内捕获高灵敏度图像。这使操作员能够创建多能量复合材料,以识别样品表面上相对成分或对比度的变化。该装置使用高速X射线发生器和直线电机旅行机，对扫描场提供精确控制。这样就可以以最小的散焦来进行统一、超精确的扫描。这些扫描也是完全可编程的,可以准确捕获和分析来自任何目标区域的数据。TENCOR NanoMapper还包括一套广泛的软件工具，如粒子分析软件包，使高级粒径和形状分析。此外，形态分析模块可以显示样品的表面粗糙度、界面地形和整体尺寸精度轮廓。NanoMapper具有几个特点，使其成为半导体技术、微电子学研究、纳米材料和生命科学等领域研究人员的理想选择。例如，通过利用快速标本持有者，该工具可以在典型X射线仪器所需时间的一小部分内快速收集数千个数据点。其他高级功能包括自动曝光时间决策、用于大幅面视图的用户控制缝合以及用于粒子识别和定位的荧光成像功能。ADE/KLA/TENCOR NanoMapper还包括自动图像对齐和失真校正。ADE NanoMapper是一种真正通用的仪器，为纳米分析提供了无与伦比的精度和精确度。通过将最高分辨率的映像与全面的软件分析工具相结合,用户能够快速准确地查看其数据。