二手 BRUKER-AXS AXS D8 Discover #9133963 待售

BRUKER D8 Discovery是一种X射线光谱仪设备，设计用于表征材料的化学和物理性质，用于研究、质量控制和其他应用。该系统由一个X射线源、样本区域和检测器组成。X射线源提供单色和准直X射线光束探测样品。样品区装有样品支架，例如具有垂直和水平对准能力的样品支架，用于定位感兴趣的样品。探测器用于收集和记录发射的X射线。探测器可以是检测晶体和闪烁计数器的组合，也可以是位置敏感的检测器，如充气比例计数器、永久准直闪烁计数器或半导体基多通道板检测器。D8 Discovery unit能够进行广泛的X射线分析技术，包括单晶X射线衍射、粉末X射线衍射、X射线荧光（XRF）、X射线反射率（XRR）、X射线衍射地形、X射线光电子光谱测量（XPTION）。单晶X射线衍射通过测量衍射X射线束的角位置来确定样品的结构。粉末X射线衍射被用于获取关于样品的晶体学结构、化学成分和相的信息。X射线荧光用于测定样品的元素组成。X射线反射率用于测量样品的电子密度剖面。X射线衍射地形用于测量样品的表面形态。X射线光电子光谱用于测量样品的化学成分和电子态。最后，吸收测量被用来定量地测量由于样品性质的变化，例如浓度、密度或折射率所引起的吸收变化。通过提供灵活的用户界面,BRUKER D8 Discovery机器使用户可以轻松配置和操作各种X射线分析技术的工具。资产还能够自动收集数据并提供实时反馈。D8 Discovery适用于从结构表征到质量控制的各种材料分析需求。这种高度通用的模型为科学家和研究人员调查材料的物理和化学方面提供了一个极好的平台。