二手 BRUKER Transmission Electron Microscope (TEM) #293774073 待售

BRUKER Transmission Electron Microscope (TEM)
ID: 293774073
晶圆大小: 4"
EDS, 4" Active sensor area: 100 mm.
BRUKER透射电子显微镜(Transmission Electron Minccope,简称TEM)是为精确探索纳米级材料而设置的尖端成像设备。这种先进的仪器采用高能电子束,以极高的分辨率可视化样品,提供有关其结构、组成和性质的详细信息。紧凑的设计和卓越的性能使其成为材料科学、纳米技术、生物物理学、半导体技术等各个科研领域必不可少的工具。BRUKER TEM系统的核心是一个复杂的电子源,它产生一个聚焦电子束,能够以极高的精度穿透薄样品。电子束的高能量使它能够在原子水平上与样品相互作用,提供对样品形态和晶体结构的宝贵见解。此外,该单元还配备了一系列电磁透镜,对电子束进行操纵和聚焦,以获得超高分辨率的锐利图像。BRUKER TEM配备了先进的成像探测器,捕获样品散射的电子,生成详细的图像,在原子尺度上揭示材料的内部结构。这些探测器甚至对电子强度的微小变化都很敏感,让研究人员能够可视化样品内的单个原子、缺陷和界面。此外,该机还采用能量色散X射线光谱(EDS)探测器,可以分析样品的元素组成,结合高分辨率图像提供有价值的化学信息。BRUKER TEM工具的关键优点之一是它在广泛的样品类型成像方面的多功能性,包括薄膜、纳米颗粒、生物标本和纳米材料。该资产提供各种成像模式,如亮场成像、暗场成像和高分辨率成像,每一种都针对不同类型的样品和研究要求进行了优化。此外,TEM模型还可以进行衍射研究,研究材料的晶体学结构,分析它们的相组成。BRUKER TEM设备配备了先进的分析能力,使研究人员能够高精度进行现场实验、动态观测和样品元素映射。系统的用户友好软件界面让研究人员能够有效地控制成像参数、分析数据和生成报告。此外,该装置的设计目的是尽量减少电子束对样品的损害,确保在长时间的实验中获得准确和可靠的成像结果。总之,BRUKER透射电子显微镜(TEM)是一种最先进的成像机器,为纳米级材料的研究提供了卓越的分辨率、灵敏度和多功能性。其先进的电子光学、成像探测器和分析能力使其成为研究人员寻求探索材料错综复杂的特征和深入了解其性质的不可或缺的工具。无论是用于学术研究、工业应用还是技术创新,BRUKER TEM工具都为高性能电子显微镜设定了新的标准。
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