二手 HITACHI / OXFORD X-Strata 920 #293755846 待售

HITACHI/OXFORD X-Strata 920是一种先进的X射线荧光（XRF）涂层厚度测量设备，为广泛的应用提供高精度分析。这种先进的仪器结合了牛津大学在分析仪器方面的专业知识和HITACHI Instruments在高质量XRF技术方面的声誉，为测量涂层厚度和组成提供了强大的解决方桉。OXD X-Strata 920使用X射线激发来分析各种基板上涂层的元素组成和厚度。这种无损技术效率高，能提供准确的结果而不会损坏样品。该系统配有大功率X射线管和灵敏检测器，能够检测微量元素，测量薄涂层，精确度异常高。HITACHI X-Strata 920的关键特性之一是多功能性。该单元可以分析广泛的样品类型，包括金属合金、塑料膜、电镀涂层和多层结构。这种灵活性使其成为电子、汽车、航空航天和金属精加工等行业的宝贵工具,在这些行业中,精确的涂层厚度测量对于质量控制和工艺优化至关重要。X-Strata 920由于其直观的软件界面和自动化的测量例程而易于使用。操作员可以快速设置仪器，使用经过认证的参考标准对其进行校准，并以最少的培训开始分析样品。该机器可以存储测量数据以供将来参考，并生成符合行业标准和法规的详细报告。在性能方面，HITACHI/OXFORD X-Strata 920在提供准确且可重复的结果方面表现出色。该工具的高级算法确保测量精确,即使是薄涂层和复杂的层结构也是如此。它还提供了极好的灵敏度，能够检测到低于百万分之几的元素。OXFORD X-Strata 920配备了一系列可选配件和功能,以增强其功能。这些选项包括自动化样品处理、涂层过程实时监控以及与行业标准软件平台集成以进行数据分析和报告。该资产还可以定制以满足特定的用户要求和应用程序,使其成为满足各种涂层厚度测量需求的通用解决方桉。总体而言,HITACHI X-Strata 920是一款最先进的X射线模型,可提供卓越的性能、易用性和适用于涂层厚度测量应用的多功能性。它结合了先进的技术、精确的测量能力和用户友好的设计,使其成为需要对涂层厚度和组成进行准确可靠分析的行业的宝贵工具。