二手 JORDAN VALLEY QC3 #9122833 待售
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已售出
ID: 9122833
晶圆大小: 8"
优质的: 2012
High resolution x-ray diffractometer (HR XRD), 8"
Slots:
(1) 6” Wafer
(4) 4” Wafers
(4) 3” Wafers
(8) 2” Wafers
X-Ray source:
Sealed tube
Panalyical
C-Tech tube with copper anode
Power operated: 3 kW
Typically operated: 40 mA / 40 kV
Incident beam optics (Parameters):
Channel cut crystal
Ge (002)
Beam divergence: ~25 arcsec
Diffracted beam optics (Parameters):
Triple axis crystal cut asymmetrically to Si(022) plane
With acceptance angle: 12 arcsec
Motorized detector slit
EDR (Enhanced dynamic range) detector: Scintillator
Dark background: about 0.4 cps with >20 Mcps saturation level
Recent measurement:
Si (001)
Substrate (004)
Peak: 2.03 E7 cps
FWHM: 0.015º
Software:
Control 2: Version 3.0.0.20
Bede hardware: Version 3.0.0.18
Contour: Version 2.8.0.8
RADS: Version 5.2.4.0
Quick graph: Version 2.1.0.4
Peak split: Version 2.9.0.3
Bede 3D: Version 1.3.0.9
JV Interlock control: Version 1.5.0.8
JV X-Ray control: Version 2.0.0.20
Fingerprint generator: Version 1.9.0.2
Includes:
Common substrates
Reflections
Currently installed
2012 vintage.
JORDAN VALLEY QC3是为工业应用而设计的高性能X射线成像设备。该系统旨在为质量控制和测试过程应用提供快速、准确和高性能的成像解决方桉。它能够成像各种材料，如金属、塑料、木材和瓷砖。该单元的核心是一个X射线源，是一个能够产生千伏和兆伏范围内的X射线光子的能源。该源将X射线辐射到样品中，样品穿过材料并产生显示在计算机监视器上的图像。机器可以提供各种图像,包括线/边扫描、横截面图像和曲面轮廓。JORDAN VALLEY QC-3工具的设计是高度可定制的,有多个X射线源、探测器和准直仪可供使用。该资产还设计为用户友好，能够选择和存储特定参数以供将来使用。该模型采用强大的图像处理算法设计，允许用户区分特征，如边缘和缺陷，并优化图像对比度。除了成像能力外，该设备还被设计为能够测量薄膜含量，包括厚度、涂层特性、结晶结构和材料成分。该系统还配备了一个紧急辐射探测器，能够从表面检测辐射，以提高X射线成像精度。该设备配备了多种安全功能，以保护用户免受任何潜在的辐射暴露风险。该机设计有故障安全机构，如果检测到高水平的辐射，就有能力将工具关闭。该资产还有一个内置的安全互锁模型，设计用于在X射线源向外界开放的情况下关闭设备。总体而言,QC3是一个高度先进和可靠的X射线成像系统,能够为质量控制和测试过程应用提供快速、准确和高性能的图像。其可自定义的设计和紧急辐射探测器使其成为许多行业用户的理想解决方桉。
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