二手 PHILIPS / PANALYTICAL PW 2830 #293652326 待售

PHILIPS / PANALYTICAL PW 2830
ID: 293652326
XRF Wafer analyzer.
PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830是为实验室结构分析而设计的X射线衍射仪设备。它是一种多用途的仪器,允许广泛的应用,包括定性、定量和深入的结构分析。PHILIPS PW 2830由源、样品室、单色仪、探测器和相关电子设备组成。X射线源由电子电源驱动的X射线管组成。X射线管的高压电源可设置高达40 kV,通常在25 kV下运行。对光源进行准直以产生发散度为1-2.5 mrad的光束,光束轮廓可调节以给出所需的分辨率。样品放置在样品室中,在其中暴露于X射线光束。该室配有一个机动机械手,用于定位样品。样品几乎可以在任何构型中定向,允许研究各种类型的晶体结构。单色仪由一个X射线镜和一个能量滤镜组成。X射线镜反射入射X射线束并将其引导到样品上。能量滤波器用于消除杂散X射线并选择所需的X射线能量。单色仪还提供了光束的可调准直,从而提高了衍射图的分辨率。PANALYTICAL PW 2830系统的检测电子设备由探测器、放大器和脉冲整形电路组成。检测器是一种半导体,通常是一种具有可渗透表面的基于硅的器件。放大器用于提高检测器的灵敏度。脉冲成形电路用于对检测器信号进行调节,确保只将相关信号传递到数据采集单元。PW 2830机器能够进行各种类型的衍射,包括平面内、平面外和飞行时间实验。此外,PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830可以生成多种图形,包括单晶迹线图和Debye-Scherer图。该工具还配备了软件,允许数据处理和分析。总体而言,PHILIPS PW 2830是一种功能强大、可靠的X射线衍射仪资产,已被广泛用于实验室晶体结构研究。它能够在相对较短的时间跨度内提供高质量的结果,并配备了多种功能来协助此类调查。
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