二手 ADVANTEST T 5375 #162944 待售
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ID: 162944
Memory test system
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 16
SIZE OF FMRA BOARD [0:0G,1:1.44G,2:2.88G] ..........> 1
TYPE OF CFM [1:TYPE-1,2:TYPE-2] .............> 1
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:1G,2:2G] .....................> 1
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO.
ADVICEST T 5375是由全球半导体测试解决方桉领导者ADVICEST Corporation开发的集成最终测试设备。该系统基于最新的Silicon Test Platform （SIP）技术，为各种微处理器、内存和逻辑器件的广泛测试要求提供了灵活、经济高效的能力。ADVANTEST T5375包括一个大型机和许多墨盒,它们提供了支持各种设备的灵活性。大型机由两个主机计算机系统组成，包括一个基于Windows的GUI单元和一个基于PXI的分布式仪表机。这允许主机级控制所有测试活动,包括配置和数据收集。此外,T 5375还具有多个集成测试接口,支持高速、低电压和标准测试以及刻录任务。T5375工具使用了许多不同的测试工具和技术。该资产有一个集成的模型级测试，提供全面的故障覆盖。测试设备基于SIP体系结构，该体系结构经过优化以支持高引脚计数设备的测试。这包括低压测试、一些烧伤测试、探针和附件。该系统可以编程为执行高压测试、时钟源、pad可编程和专有测试等多种类型的测试。该单元包括许多附加功能,例如用于调试的可编程示波器。此外,ADVANTEST T 5375还集成了数据收集和分析功能,允许用户实时生成和分析测试数据。这使用户能够快速、准确地识别设备故障和边缘性能的根本原因,有助于减少不必要的维修次数并提高现场产量。ADVANTEST T5375是针对各种微处理器、存储器和逻辑设备的高级测试解决方桉。凭借其先进的功能和集成的机器级测试和调试功能,它是一个功能强大且经济高效的解决方桉,可满足任何半导体测试需求。
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