二手 ADVANTEST T 5375 #9166525 待售
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ID: 9166525
优质的: 2002
Memory tester
Single head
Configuration of test head
Pin configuration
512DR+ 320I/O(QUARTER)
1024DR+ 640I/O(HALF)
1536DR+ 640I/O(FULL)
2048DR+ 640I/O(FULL)
1536DR+1280I/O(FULL)
2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 0
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> No
SIZE OF PM BOARD [1:1G,2:2G,3:4G,4:9G] ...........> 1
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO
2002 vintag
ADVANTEST T 5375是芯片生产过程中使用的最终测试设备,用于确保完成的芯片正常工作并满足客户的要求。它用于大型晶圆探针，在那里可以在短时间内测试大量芯片。该系统具有功能强大且用途广泛的测试功能,可轻松测试SRAM、DRAM和Flash等大容量内存设备。ADVANTEST T5375包括增强的测试控制体系结构、用于更可靠程序的测试访问系统以及自动测试模式生成功能。它还可以结合结果分析功能来评估各种问题的测试结果。易于学习的界面允许快速采用,同时还使工程师能够获得有价值的测试数据,这些数据可用于完善和优化测试过程。T 5375具有强大的硬件功能,可满足各种测试需求。该单元包括一个高速No-Wait Time （NWT）夹层卡和一个8通道、64位open-MCTest接口,用于多个芯片的快速并行访问,以及加快晶圆测试时间的Advanced Hardware Trigger （AHT）机。它还利用高级存储卡体系结构,包括高级DSP卡、用于控制单元的603PPC场可编程门阵列（FPGA）以及用于所有内存设备的SRAM设备接口。T5375还利用高精度的线性定位技术在测试过程中实现准确的位置控制。这项技术使探头的精确对准和定位能够确保可靠的晶圆对准。此外,ADVANTEST T 5375可以轻松编程,以管理过程变化,并为各种产品和过程提供准确的测试结果,且变异性最小。此外,ADVANTEST T5375还集成了全面的测试环境管理功能,包括实时JTAG支持,以便于处理测试设置和编程。测试环境还配备了自动化的测试参数检查和基于结果的测试参数调整，以确保每个芯片都使用相同的参数进行测试。T 5375可以同时对多个样本执行测试，提供最大吞吐量和生产率。总体而言,T5375是一个功能强大且可靠的最终测试工具,用于确保正确的测试结果并验证每个芯片是否符合客户要求。其多用途的功能集和先进的功能让晶片製造商能够最大限度地提高速度、效率和测试精度。它是在当今竞争激烈的市场上提供优质产品的完美解决方桉。
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