二手 ADVANTEST T 5375 #9181104 待售
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ID: 9181104
Memory tester
/DIAG/G
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1.512DR+ 320I/O(QUARTER)
2.1024DR+ 640I/O(HALF)
3.1536DR+ 640I/O(FULL)
4.2048DR+ 640I/O(FULL)
5.1536DR+1280I/O(FULL)
6.2048DR+1280I/O(FULL) [1-6] ...> 6
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD 0.NOT EXIST
1. EXIST
DR PIN 1A1 1A5 17A1 25A1
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
IO PIN 33A1 97A1 33A5 97A5
CHILD A,B ....> 1 1 1 1
CHILD C,D ....> 1 1 1 1
CHILD E,F ....> 1 1 1 1
CHILD G,H ....> 1 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 1-64
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 1-256
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-64] ...........> 0
PPS CONFIGURATION [1-256] ..........> 0
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FMRA BOARD [0-16] ..........................> 0
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> NO
CONFIGURATION OF MRA
MRA4 EXIST [Y,N] .....................................> NO
END SAVE.
ADVANTEST T 5375是一种高性能的最终测试设备，设计用于生产精密半导体器件。该系统具有多站点自动处理程序、测试仪和热冲击室，能够对封装和裸模集成电路进行全面测试。ADVANTEST T5375在单个单元中支持数字、溷合信号和模拟测试格式的全面测试功能。全矢量数字测试功能由支持JTAG、IEEE 1149.1和IEEE 1149.6协议的矢量步可编程内存单元提供。溷合信号功能由模拟/溷合信号测试仪提供，带有专属的动态参数测试机，允许高速模拟和数字测试。该工具还支持资产内编程和性能验证。T 5375提供了用户友好的图形操作员界面，具有多种自动测试功能。此界面允许与客户的生产线和外部数据库系统（如过程控制或诊断系统）无缝集成。它支持灵活的测试调度、完全参数化、多个测试程序、数据日志记录、实时报告和趋势、可定制的数据表示和报告以及广泛的参数召回。T5375还配备了一个多站点自动处理程序，以快速设置和处理被测设备的多个配置。此处理程序能够处理3.2mm大小的裸模,每个托盘最多可安装160个设备。它还支持在处理芯片、框架、板和夹具方面的高精度装配和安装操作。ADVANTEST T 5375还具有一个自动热冲击室,它允许测试各种温度范围内的设备。该室具有先进的多编程能力，允许编程和存储多达32个测试的测试运行，以便于检索。此功能允许对用于汽车、医疗、航空航天和其他极端温度环境的IC进行快速而坚固的性能测试。总体而言,ADVANTEST T5375为集成电路的测试提供了全面、自动化的解决方桉,使其成为需要大量测试的公司的一个有吸引力的选项。该测试模型具有丰富的特点，是半导体器件生产的理想选择。
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