二手 ADVANCED METROLOGY SYSTEMS (AMS) IR3100 #9055342 待售

Advanced Metrology Systems （AMS） ADVANCED METROLOGY SYSTEMS （AMS） IR3100是一种高度精确、紧凑、自动化、高速的光学检查设备,旨在彻底改变半导体及相关行业中精确、精确的电气、光学和3D计量测量。IR3100利用先进的激光技术和特殊的光学技术,获得具有非常精确的3D地形和过程灵敏度测量的高质量图像。它具有多种功能,如全步扫描和高级照明引擎,在执行测量时提供无与伦比的精度和细节。该软件的设计易于使用,可快速准确地执行过程评估,以检测是否存在缺陷和模具故障。ADVANCED METROLOGY SYSTEMS （AMS） IR3100在一个高速自动化系统中执行晶圆和掩模检查。它可以以速度、精度和可重复性检查大面积区域。它还有一个快速、精确的自动对焦单元，内置高分辨率传感器。该机器的设计采用了最新功能，以确保在充满挑战的工业环境中获得准确、一致的结果。IR 3100的复杂软件能够分析复杂的模式,例如晶片表面的规律性或其电性能。通过结合物理参数和全面的统计分析，软件的设计为用户提供了一个最小要求的直观用户界面。ADVANCED METROLOGY SYSTEMS （AMS） IR3100还配备了创新的高通量自动扫描功能。这将自动重新定位样本,并在一次扫描中处理各种检查任务。机器还可以从以前的扫描中学习，使其能够进一步提高扫描过程的准确性和速度。IR3100是先进计量和过程监测的绝佳选择。凭借其内置的高分辨率传感器和先进的照明引擎，该工具可以毫不费力地捕获详细的测量和处理数据，以便进行高效和准确的分析。从过程评估到模具工程,ADVANCED METROLOGY SYSTEMS （AMS） IR3100对于正在寻找可靠而强大的计量解决方桉的用户来说是一个极好的选择。