二手 CARL ZEISS AIMS 248 #9251826 待售

CARL ZEISS AIMS 248是一种用于掩模和晶片检查的自动检查设备，它结合了革命性的成像技术，在对掩模和晶片表面的审查和评估中提供了最先进的精度和准确性。与传统光学系统相比,该检测系统具有独特的远心光学平台,可提供卓越的成像质量,同时利用不到1%的光功率和时间。该单元还集成了一个高分辨率彩色CCD相机，能够捕捉具有增强的景深和无与伦比的图像清晰度水平的图像。为了进一步优化检查过程,AIMS 248包含一台自动对焦调整机,该机可以识别和校正任何对焦漂移,并为图像审阅提供精确的准确性。此功能大大缩短了完成检查过程所需的时间,并使数据的解释速度比以往任何时候都快。此外,该工具还提供多种支持功能,包括集成的计算机控制晶片和掩模位置传感器,用于检测缺陷和高达0.0001 cm的位置精度、动态扫描速度调整以及直观的数据分析工具。CARL ZEISS AIMS 248利用了一种革命性的显微镜技术，称为光学轮廓测量，使其能够以极高的精度测量薄膜表面轮廓、形状和其他表面缺陷。这种先进的资产可以检测和分析表面缺陷和缺陷,分辨率小于50 nm。为了进一步提高其性能，该模型采用了激光粒子计数器等多种配件，用于测量薄膜粒子位置、用于详细分析表面缺陷的高分辨率显微镜附件、用于测量表面反射率的散射计以及用于精确测量表面特性的可变入射角附件。这些特性使AIMS 248成为掩模和晶圆检查的优越工具。此设备提供卓越的成像性能、更高的准确性和最大的易用性。CARL ZEISS AIMS 248具有广泛的附件和可定制的成像参数,能够满足对高端掩模和晶圆检查过程的任何检查要求。