二手 NEUVIS IR2R #293608593 待售

NEUVIS IR2R是一种最先进的掩模和晶片检测设备，设计用于以极高的精度检测表面缺陷。系统利用红外光谱的特殊能力检测肉眼可能看不见的缺陷。该单元每小时最多可采集10,000个样品，尺寸从5µm到70mm不等。它拥有7英寸液晶触摸屏显示屏，让用户操作轻松直观。该机采用五种主要技术检测表面缺陷。它能够进行静态或动态测量，其中可以使用各种类型的成像技术，如三角测量或结构光扫描。它还使用扫描白光干涉测量（SWLI）来测量晶片的表面轮廓，以及反射率扫描、组成成像和椭圆偏振测量表面材料的性质。该工具的设计规模可达大批量,可执行适用于各种基板的高速无损测量,包括硅、玻璃、石英、陶瓷、钢等。该资产还包括高级缺陷识别和分析功能,使用户能够快速识别和表征缺陷。该模型功能强大的软件套件包括一组AI算法，这些算法提供了一种有效的方法来识别缺陷并确定导致缺陷出现的底层过程。设备的一些更高级的功能包括可定制的通过/失败标准以确定最佳结果、用于生成被检查样本的优化3D映射的数据转换器以及用于自动缺陷分类的动态模式识别。此外,IR2R还带有远程监视功能,用户可以通过互联网连接从任何地方监视操作。此功能可帮助用户即使在远程工作时也能随时了解处理状态。该系统还包括维护工具和性能优化工具,允许用户轻松诊断单元问题并确保最佳性能。总体而言，NEUVIS IR2R是一种先进的掩模和晶片检测机，可提供可靠的缺陷检测和分析结果。该工具功能强大的软件套件、高速测量、高级缺陷识别和远程监视功能,使其成为各种生产环境的理想选择。