二手 RUDOLPH NSX 115 #9353342 待售

製造商
RUDOLPH
模型
NSX 115
ID: 9353342
优质的: 2008
Wafer defect inspection system, parts machine Missing parts: Odyssey board CCD Turret PC 2008 vintage.
RUDOLPH NSX 115是一种最先进的掩模和晶片检测设备,旨在确保在制造前沿微电子产品方面的卓越精度和精确度。该系统由高速光学成像单元组成,捕获掩模和晶圆表面的图像。该机还集成了一个专有的光学模块,具有高精度纳米级和先进的微图桉对准能力。这样就可以快速、精确地设置过程优化检查。NSX 115还配备了高分辨率的optomask托盘,提供可靠的掩模库和测量数据。高级蒙版编辑功能可针对各种类型的蒙版(包括溅射、蚀刻和平版印刷)实现自动和严格的模式匹配。光学成像工具具有广阔的视野和高速扫描功能,即使是最复杂的结构也能快速可视化。通过高精度45度倾斜调整,资产可以在大面积范围内运行,而不会影响精度。这允许在广泛的设备地形中检查大面积特征,包括对称和非对称接触。RUDOLPH NSX 115进一步配备了全面的晶圆检查光学器件阵列,使其能够以精确的解析度成像区域和缺陷特徵。为保证高精度检测结果,该模型配备了高分辨率图像捕获,用于增强晶圆检测。此外,自动对齐和检查过程简化了设置和后续监控活动。NSX 115也适用于各种流程监控应用。该设备旨在检测过程参数的任何细微变化,包括焦距、光掩模特性和透镜失真。利用系统的自动图像捕获功能,可以实现长期的流程优化和改进。自动选项确保持续监测流程关键的结果。RUDOLPH NSX 115除了具有掩模和晶圆检测能力外,还提供各种显示器和数据系统之间的卓越连接。高级网络支持允许远程查看图像、报告和数据。这对于从中心位置密切监视关键流程参数的远程团队特别有用。最后,NSX 115是一个精密的成像工具,用于详细可靠的掩模和晶圆检查.其先进的光学模块、高效的掩码库以及先进的图像捕获功能,可实现快速的检查设置和可靠的缺陷检测。高性能远程连接还确保了对流程优化和长期收益改进的卓越支持。
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