二手 RUDOLPH NSX 90 #9124597 待售

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RUDOLPH NSX 90
已售出
製造商
RUDOLPH
模型
NSX 90
ID: 9124597
Wafer inspection systems.
RUDOLPH NSX 90是一种3D蒙版检查设备,旨在帮助工程师在检查光掩模和晶片的同时优化精度和生产力。该系统利用非接触式3 D扫描技术以高度精确的测量来检查曲面。通过结合干涉光学显微镜和扫描电子显微镜,NSX 90可以很容易地测量图样缺陷、颗粒物、步高、侧壁宽度、闸门长度、临界尺寸以及光掩模和晶圆的粗糙度低至4微米。RUDOLPH NSX 90还包括高级图像分析功能。复杂的算法会根据预定义的标准和规则自动识别和分类缺陷,从而使缺陷评估更快、更准确。其他功能包括缺陷分类和注释功能,以及用于存储获取图像的可靠数据库。该单元还提供高达16倍的光学滤波器选项,允许工程师专注于特定的波长或光源,以减少不必要的光反射,从而在精细的几何特征和缺陷之间进行更大的对比度。此外,NSX 90还包含可变的光学曲率、可调焦点、低噪声温度控制以及经过调谐的光学机器。这些元件的组合导致更高的成像一致性和稳定性,进一步提高精度。RUDOLPH NSX 90旨在简化掩模和晶圆检查,为工程师提供卓越的工作流优化、提高产量和降低成本。该工具易于使用,包括用户友好的UI,允许用户快速有效地访问控制和测量功能。作为X-RAY Solutions系列的一部分,NSX 90为X-RAY掩码检查和工厂自动化提供了可靠的支持。此外,RUDOLPH NSX 90的连续操作功能允许长时间在紧张的工作流时间范围内处理复杂的主板分析。最重要的是,资产包括实时反馈和控制功能,帮助用户及时监控和调整检查参数。最后,NSX 90为工程师提供了一种功能强大、高效且可靠的掩模和晶圆检查模型。通过利用先进的3D扫描技术,工程师可以以最高的精度和速度轻松检查和分类光掩码和晶片的缺陷。此外,系统强大的光学和图像分析功能为用户提供实时反馈和控制功能,以优化工作流优化。
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