二手 RUDOLPH Waferview 320 #9223168 待售

ID: 9223168
优质的: 2006
Macro defect inspection system EFEM 2006 vintage.
RUDOLPH Waferview 320提供了最先进的掩模和晶圆检测技术,用于各种行业的先进工艺控制。这台设备可以测量和评估各种晶圆尺寸,包括200mm、300 mm和450mm,并且最多支持八个摄像头,每个摄像头都有自己独特的观看特性。Waferview 320提供了全面的模式识别技术,可以在掩蔽和晶圆检测阶段检测差异、关键缺陷和缺陷。RUDOLPH Waferview 320能够以无与伦比的精度和精确度检查高达0.3微米的晶圆图样。该系统配备了高速相机,能够以高达400 fps的速度捕捉图像,非常适合检查动态过程。全自动单元还采用了先进的图像稳定技术,提供了先进的图像清晰度和一致性。为Waferview 320供电的软件完全可定制,具有用户友好界面,便于导航和控制。该机器允许进行全面的数据分析,包括图形化的可视化和检查结果的统计摘要。此外,它还采用了复杂的算法,以帮助确保可靠的结果并促进有效的检查过程。RUDOLPH Waferview 320设计具有卓越的安全功能,包括用于保护用户的眼睛安全LED。该工具还具有真空密封资产,以及防尘外壳,在使用过程中保护晶圆标本。总体而言,Waferview 320是先进工艺控制的终极掩模和晶圆检测模型。该设备具有先进的成像功能、先进的软件功能和全面的安全功能,在确保精确和准确的检查结果方面非常宝贵。
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